Модельная школа в красноярске: Школа моделей SIGMA в Красноярске

Школы моделей в Красноярске с адресами, отзывами и фото

8 мест

  • школы моделей — мы нашли для вас 8 учебных центров в городе Красноярске;
  • актуальная информация об услугах в Красноярске, удобный поиск;
  • школы моделей — адреса на карте, отзывы с рейтингом и фотографиями.

творческие курсы

Метро, район

Рейтинг

Акции

Есть акции

Онлайн-запись

Рядом со мной

Круглосуточно

Открыто сейчас

Будет открыто ещё 2 часа

С отзывами

С фото

Рейтинг 4+

Сортировка

  • 7292″ data-ev_label=»standard»>
  • ca04″ data-ev_label=»standard»>

Больше нет мест, соответствующих условиям фильтров

  • Школы моделей в Красноярске — у каких учебных центров самый высокий рейтинг?

    Пользователи Zoon. ru наиболее положительно оценили STARS умники, IRIS.

  • Можно ли доверять отзывам о учебных центрах на Zoon.ru?

    Да! Каждый день мы фильтруем до 20 тыс. отзывов и удаляем найденные фейки и спам.

Рекомендуем также

DOLCE VITA (модельная школа) в Красноярске, ул. Карла Маркса, 73А

Е

Екатерина Александровна Будникова…

7 отзывов

20 месяцев назад





2

О

Ольга Геннадьевна Мелешко

1 отзыв

20 месяцев назад





5

C

chupakabra

1 отзыв

21 месяц назад





5

S

salieva jasmin

1 отзыв

22 месяца назад





5

Ф

Федор Деревягин

1 отзыв

22 месяца назад





1

Ш

Шырын Харькова

1 отзыв

23 месяца назад





5

P

Paulina Sibrina

1 отзыв

2 года назад





1

М

Мария Йолтуховская

2 отзыва

2 года назад





4

У меня брат заниматься в данной школе.
Обучение хорошеее, есть результат «до» и «после», ходим на открытые уроки, довольны педагогами по актёрскому мастерству и психологии — Владимир Москаленко, Сербаева Юлия.
Если со стороны ребенка, ему нравится, говорит внимательные наставники.)
Теперь ждём выпускного вечера!

10

Ответить

Институт вычислительного моделирования СО РАН, г. Красноярск, Россия

Организации: Институт вычислительного моделирования СО РАН, г. Красноярск , Россия

Организации
РУС
РУС
ЖУРНАЛЫ

ЛЮДИ

ОРГАНИЗАЦИИ

КОНФЕРЕНЦИИ

СЕМИНАРЫ

ВИДЕО БИБЛИОТЕКА

ПАКЕТ AMSBIB

 

В вашем браузере отключен JavaScript. Включите его, чтобы включить полную функциональность веб-сайта

Институт вычислительного моделирования СО РАН, Красноярск, Россия
Адрес: Россия, 660036, г. Красноярск, Академгородок
Телефон: +7 (3912) 43 27 56
Факс: +7 (3912) 43 27 56
Электронная почта: электронная почта
Веб-сайт: http://icm.krasn.ru
Количество человек: 61
Количество авторов: 289
Количество публикаций: 613
Персонал: А Б В Г Д Е Ж З И К Л М Н П Р С Т Ф Х Ш
полный список

Институт создан 1 января 1975 года постановлением № 65 от 19 ноября 1974 года Государственного комитета Совета Министров СССР по науке и технике как Вычислительный центр Сибирского отделения АН СССР ( КСС СБ С СССР).

С 1991 года Институтом руководит член-корреспондент РАН В. В. Шайдуров.

Постановлением № 250 от 1 августа 19 г.97 Президиум Сибирского отделения Российской академии наук переименовал институт в Институт вычислительного моделирования Сибирского отделения Российской академии наук (ИКМ СО РАН) и закрепил за ним научное направление «Методы математического моделирования и интеллектуальные информационные системы».

Источник: icm.krasn.ru

Головная организация:

  • Сибирский федеральный университет

Другие названия учреждения:

  • Вычислительный центр СО РАН
  • Вычислительный центр СО АН СССР
 

Свяжитесь с нами:
электронная почта

Условия эксплуатации Регистрация на сайте Логотипы ©
Стеклова РАН, 2023

Моделирование характеристик электропроводящих нанофильтрационных мембран

. 2023 12 июня; 13 (6): 596.

doi: 10.3390/membranes13060596.

Капитонов Алексей А
1

2
, Илья I Рыжков
1

2

Принадлежности

  • 1 Институт вычислительного моделирования СО РАН, Академгородок, 50-44, 660036 Красноярск, Россия.
  • 2 Факультет космических и информационных технологий Сибирского федерального университета, ул. Свободный, 79, 660041 Красноярск, Россия.
  • PMID:

    37367800

  • PMCID:

    PMC10305182

  • DOI:

    10. 3390/мембраны13060596

Бесплатная статья ЧВК

Капитонов Алексей А и др.

Мембраны (Базель).

.

Бесплатная статья ЧВК

. 2023 12 июня; 13 (6): 596.

doi: 10.3390/membranes13060596.

Авторы

Капитонов Алексей А
1

2
, Илья I Рыжков
1

2

Принадлежности

  • 1 Институт вычислительного моделирования СО РАН, Академгородок, 50-44, 660036 Красноярск, Россия.
  • 2 Факультет космических и информационных технологий Сибирского федерального университета, ул. Свободный, 79, 660041 Красноярск, Россия.
  • PMID:

    37367800

  • PMCID:

    PMC10305182

  • DOI:

    10.3390/мембраны13060596

Абстрактный

Электропроводящие мембраны представляют собой класс материалов, реагирующих на раздражители, которые позволяют регулировать селективность и отторжение заряженных частиц путем изменения поверхностного потенциала. Электрическая поддержка обеспечивает мощный инструмент для преодоления компромисса между селективностью и проницаемостью из-за его взаимодействия с заряженными растворенными веществами, что позволяет проходить нейтральным молекулам растворителя. В данной работе предложена математическая модель нанофильтрации бинарных водных электролитов электропроводящей мембраной. Модель учитывает как стерическое, так и доннановское исключение заряженных частиц из-за одновременного присутствия химических и электронных поверхностных зарядов. Показано, что отторжение достигает минимума при потенциале нулевого заряда (ПЗЗ), где электронный и химический заряды компенсируют друг друга. Отторжение увеличивается при изменении поверхностного потенциала в положительном и отрицательном направлениях по отношению к PZC. Предложенная модель успешно применяется для описания экспериментальных данных по задержанию солей и анионных красителей нанофильтрационными мембранами ПАНи-ПСС/УНТ и MXene/УНТ. Полученные результаты позволяют по-новому взглянуть на механизмы селективности проводящих мембран и могут быть использованы для описания процессов нанофильтрации с электрическим усилением.


Ключевые слова:

электропроводящая мембрана; ионная селективность; математическое моделирование; нанофильтрация.

Заявление о конфликте интересов

w3.org/1999/xlink» xmlns:mml=»http://www.w3.org/1998/Math/MathML» xmlns:p1=»http://pubmed.gov/pub-one»> Авторы заявляют об отсутствии конфликта интересов.

Цифры

Рисунок 1

( a ) Нанопора…

Рисунок 1

( a ) Нанопора, соединяющая входную и пермеатную стороны. ( б )…


Рисунок 1

( a ) Нанопора, соединяющая входную и пермеатную стороны. ( b ) Схема двойного электрического слоя в нанопоре.

Рисунок 2

Зависимость отбраковки (…

Рисунок 2

Зависимость отторжения ( a ), объемной плотности заряда мембраны ( b…


фигура 2

Зависимость отторжения ( а ), плотности объемного заряда мембраны ( b ), трансмембранного потока ( c ) и мембранного потенциала ( d ) от потенциала, приложенного к поверхности мембраны, при различных значениях Штерна объемная емкость слоя.

Рисунок 3

Зависимость отбраковки (…

Рисунок 3

Зависимость отторжения ( a ) и трансмембранного потока ( b )…


Рисунок 3

Зависимость отторжения ( a ) и трансмембранного потока ( b ) от приложенного перепада давления для различных значений поверхностного потенциала.

Рисунок 5

Зависимость отказа от…

Рисунок 5

Зависимость отторжения от потенциала, приложенного к поверхности мембраны для…


Рисунок 5

Зависимость задерживания от приложенного к поверхности мембраны потенциала для двух водных растворов солей ( и ). Изменение плотности объемного заряда мембраны в зависимости от поверхностного потенциала ( b ). Экспериментальные данные (точки) [23] и модельные расчеты (сплошные кривые).

Рисунок 4

Зависимость отбраковки (…

Рисунок 4

Зависимость отторжения ( a ), плотности объемного заряда мембраны ( б…


Рисунок 4

Зависимость отторжения ( a ), объемной плотности заряда мембраны ( b ), трансмембранного потока ( c ) и усредненного потенциала диффузного слоя ( d ) от потенциала, приложенного к поверхности мембраны, для различных значений плотности химического заряда.

Рисунок 6

Вариант отказа с…

Рисунок 6

Изменение браковки в зависимости от концентрации NaCl в подаче для разных значений…


Рисунок 6

Вариация отклонения при подаче концентрации NaCl при различных значениях потенциала, подаваемого на мембрану. Экспериментальные данные (точки) [23] и модельные расчеты (сплошные кривые).

Рисунок 7

Зависимость отказа от…

Рисунок 7

Зависимость отторжения от потенциала, приложенного к поверхности мембраны для…


Рисунок 7

Зависимость задерживания от приложенного к поверхности мембраны потенциала для водных растворов метилового оранжевого (МО) и оранжевого G (ОГ) ( a ). Изменение плотности объемного заряда мембраны в зависимости от поверхностного потенциала ( b ). Экспериментальные данные (точки) [25] и модельные расчеты (сплошные кривые).

См. это изображение и информацию об авторских правах в PMC

Рекомендации

    1. Стратманн Х. Введение в мембранную науку и технологию. Вайли–ВЧ; Вайнхайм, Германия: 2011.

    1. Мохаммад А.В., Теоу Ю.Х., Анг В.Л., Чанг Ю.Т., Оатли-Рэдклифф Д.Л., Хилал Н. Обзор мембран для нанофильтрации: последние достижения и перспективы на будущее. Опреснение. 2015; 356: 226–254. doi: 10.1016/j.desal.2014.10.043.

      DOI

    1. Волков В.В., Мчедлишвили Б.В., Ролдугин В.И., Иванчев С.С., Ярославцев А.Б. Мембраны и нанотехнологии. Нанотех. Россия. 2008; 3: 656–687. дои: 10.1134/S1995078008110025.

      DOI

    1. Чжан Х.